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Phenom Pro 是飛納（Phenom）第七代飛納臺(tái)式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版，采用全新一代 高亮度 CeB? 燈絲 壽命3000h與優(yōu)化的電子光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn) 優(yōu)于 6 nm 分辨率，放大 350,000×， 輕松完成納米級(jí)與亞微米級(jí)材料的微觀形貌觀察。
相比上一代產(chǎn)品，分辨率提升約 20%，新增 實(shí)時(shí) BSE/SE 混合圖像（Mix） 功能，為科研與工業(yè)檢測(cè)帶來(lái)更高效率與更精確的微觀分析體驗(yàn)。
采用高亮度 CeB? 晶體燈絲，壽命約 3000 h
平均 5 年更換一次燈絲，穩(wěn)定可靠
低電壓成像表現(xiàn)更佳，適用于電子束敏感樣品
全新聚焦系統(tǒng) + 高亮度電子源
分辨率達(dá)到桌面掃描電鏡lingx水準(zhǔn)
樣品裝載到開(kāi)始觀察 小于 15 秒
適用于高校實(shí)驗(yàn)室、科研院所、企業(yè)質(zhì)檢產(chǎn)線
內(nèi)置低真空運(yùn)行模式
適用于高分子、粉末、生物樣品等不導(dǎo)電材料
自動(dòng)找焦、自動(dòng)亮度/對(duì)比度調(diào)整
無(wú)電鏡經(jīng)驗(yàn)的用戶也能快速獲得高質(zhì)量圖像
支持后期擴(kuò)展 EDS
同時(shí)完成形貌 + 元素成分分析
上海 / 北京 / 廣州 / 成都四大測(cè)試中心 & 售后中心
覆蓋全國(guó)高校、研究所、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室
國(guó)內(nèi)用戶數(shù)量接近 2000 家
光學(xué)顯微鏡：27–160×
電子顯微鏡：350,000×
成像模式：明場(chǎng) / 暗場(chǎng)
導(dǎo)航相機(jī)：高分辨率 CMOS
燈絲：高亮度 CeB?，壽命約 3000 h
加速電壓：
基本：2 / 5 / 10 / 15 / 20 kV
高級(jí)：4.8–20.5 kV 連續(xù)可調(diào)
分辨率：優(yōu)于 6 nm @10 kV
高靈敏度四分割 BSE（成分模式/形貌模式）
二次電子探測(cè)器（SED）可選
支持 Mix 混合圖像功能
抽真空時(shí)間：< 15 s
成像時(shí)間：< 30 s
格式：JPEG / TIFF / PNG
圖像像素：960×600 至 7680×4800
全自動(dòng)電腦控制馬達(dá)樣品臺(tái)
專業(yè)防震設(shè)計(jì)，無(wú)需專用機(jī)房
可放置在普通實(shí)驗(yàn)室、辦公室、企業(yè) QC 中心
新能源材料（電池正極/負(fù)極、固態(tài)電解質(zhì)）
金屬材料與粉末冶金
半導(dǎo)體封裝與失效分析
高分子與復(fù)合材料研究
生命科學(xué)、生物材料、植物學(xué)（無(wú)需噴金）
陶瓷、納米材料、MOFs、催化劑研究
企業(yè)產(chǎn)線 QC/QA 快速檢測(cè)
全國(guó)四大中心：上海 / 北京 / 廣州 / 成都
上門安裝、調(diào)試與系統(tǒng)培訓(xùn)
Phenom University（飛納學(xué)校）：從 SEM 基礎(chǔ)到 Level 5 應(yīng)用工程師
豐富的自動(dòng)分析軟件：顆粒分析、纖維分析、自動(dòng)尺寸測(cè)量等
多種樣品杯選件支持不同材料類型
飛納在中國(guó)市場(chǎng)已服務(wù)近 2000 家用戶，覆蓋高校、科研機(jī)構(gòu)、制造業(yè)與質(zhì)檢單位。
傳真：
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